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电感耦合等离子发射光谱仪ICP-OES Integra XL

型号︰Integra XL
品牌︰澳大利亚GBC
原产地︰澳大利亚
单价︰CNY ¥ 2000000 / 件
最少订量︰1 件

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产品描述

电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES) Integra XL


Integra XL 基础型       Integra XL 工业级       Integra XL 研究级


 


客户:


满意的环境应用


 


● Collex 商业测试实验室


● Mobil 经过NATA 认证的实验室Accredited


● Incitec 海水中的重金属;冷却塔中的水和排放物分析


 


满意的农业应用


 


● Latrobe University Physical Sciences & Botany 植物中的硫迁移研究


● Incitec QA/QC; 废料产品; 海水中的重金属(USN)


● CSIRO Forestry 研究(Cu,As,Se,B 的添加剂)


● Swep Analytical 商业测试实验室(土壤分析) 满意的冶金应用


● Copper Refineries 研究;例行分析;环境分析


● TiWest QA/QC TiCl4 在乳品分析中的应用


● Murray Goulbourn Co-Op QA/QC;最宽的浓度范围测量;牛奶、奶粉、酸奶的快速分析


 


在大型公司中的应用


 


三星- 电子(Korea)


● Smith Kline Beecham - 制药(USA)


杜邦- 工业(USA)


● De Nora - 电极研究(Italy)


壳牌- 石化(France)


   


   元素分析的强大工具:


● GBC 公司的Integra XL 型ICP-OES 适合于所有的ICP 应用,操作简单,维护容易,服务快捷,使ICP 分析进入一个新境界。


 


● Integra XL 型ICP-OES 以其强大的分析能力和灵活性而在全球获得广泛的认可,在环境监测、农业、生物、冶金、地质、石化和制药等领域的出色表现而迅速赢得较高的声誉。


 


● Integra XL 无论对常规分析还是研究性的任务都具有 的性价比 的自动化水平。


 


● Integra XL 集中反映了GBC 公司不断提高性价比的发展目标,和其它公司更高价格的ICP 系统相比,GBC 公司的Integra XL 却具有更多的特性、更强大的分析能力和更高的灵活性。


 


的自动化水平


 


一系列重要的功能在Integre XL 上都是标准配置


 


Integra XL 与全自动AAS 具有相近的价格,性能却是AAS 所无法比拟的。Integra XL 提供了元素分析的全面解决方案,


其优异的特性包括:


● 计算机控制200 个以上的仪器参数


   载气流速采用质量流量计进行精密的控制(冷却气和辅助气的质量流量计控制可选)


   耐用的自激式40.68MHz 射频发生器提供 的能量传输效率


● 功能强大的基于Windows 的多任务操作软件


● 恒温的光学系统具有无与伦比的光学稳定性


● 智能化的自动优化软件


● 测量紫外线的能力是标准配置


● 光栅满足最苛刻的分辨率要求


● 更快的样品分析速度,并有第二单色计可选


   可以分析最复杂的基体而无需对样品进行稀释


 


高性能的光学系统确保数据的完整性


 


高性能的光学系统满足所有相关的品质因数要求


● 无限制的波长选择,无与伦比的光学稳定性


● 高灵敏度和高效的散射光排除能力


● 的分辨率、最宽的线性动态范围


● 观测高度自动优化、检测器响应优化


   样品分析速度快,具有无与伦比的灵活性


 


Integra XL 的光学系统设计满足光谱仪器调节的所有基本品质因数要求,这一无需折衷 化原则确保了用户无论应用于什么领域都对数据的完整性有完全的自信。


 


可选择波长的范围极宽


全面的波长数据库使得用户在选择波长时,同时显示各个波长的相对灵敏度以及所有潜在的干扰谱线,复杂的波长选择变得极为简单容易。痕量元素的测量一般选择最灵敏线,而高浓度的元素则选择较不灵敏的谱线,当基体复杂时一般选择干扰最少的谱线。


Integra XL 还提供了所有ICP 可以测量的元素的谱线,可以测量S、P、B、N、Al 等在紫外区的最灵敏线,同时可以测量Li、Na、K 等高可见光区的谱线。


 


能量通过率以确保高灵敏度


由于采用有效的全反射光学部件而且光学部件的数量尽可能地少,从而保证了 光通过率和高灵敏度。


 


的分辨率-可达0.004nm


拥有高达0.004nm 的分辨率,即使是最复杂基体的样品,Integra XL也有待测元素的无干扰峰可供测量,无需进行复杂费时而且误差较大的数学处理。图中示例表明了P 的177.495nm 谱线与Cu 的177.482nm 谱线在不同分辨率时的分辨情况。


 

付款方式︰LC
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